HAST加速老化试验箱多层电路板测试  HAST加速老化试验箱多层电路板测试好处

HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化试验箱是一种常用于电子产品可靠性测试的设备。它可以模拟高温、高湿环境，对电子产品进行长时间的加速老化测试。在多层电路板测试中，HAST加速老化试验箱可以帮助检测电路板在高温高湿环境下的可靠性。它可以模拟现实生活中可能遇到的恶劣环境条件，通过加速老化测试，评估电路板在长期使用中是否会出现性能下降、功能失效等问题。

在测试过程中，电路板会被放置在HAST加速老化试验箱中，然后设定相应的温度和湿度条件。在高温高湿的环境下，电路板会经历长时间的老化过程，通过监测电路板的性能指标和功能，可以评估其可靠性和耐久性。

多层电路板测试是电子产品开发和制造过程中重要的一环，它可以帮助发现潜在的问题和缺陷，并提前进行改进和优化。通过使用HAST加速老化试验箱进行多层电路板测试，可以有效提高电子产品的可靠性和稳定性，确保其在各种环境条件下的正常运行。 一、设备用途：

    HAST加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试，对上述产品的耐压力和气密性进行测试。

二、设备特点：

1) 采用进口耐高温电磁阀双路结构，在很大程度上降低了使用故障率。

2) 独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

3) 门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

4) 试验前排冷空气；试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

5) 超长效实验运转时间，长时间实验机台运转400小时.

6) 水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.

7) tank耐压设计，箱体耐压力(150℃)2.65kg，符合水压测试6kg.

8) 二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.

9) 安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮 .

10) 偏压测试端子耐压可达3000V(选配）

11) USB导出历史记录数据，曲线.

三、主要技术参数：

设备型号： HE-HAST-40

圆形内箱尺寸： 直径Φ400×深500（mm）

温度范围： +100℃～+132℃( 蒸气温度 )

温度波动度： ±0.5℃

温度显示精度： 0.1℃

湿度范围： 70~100% 蒸气湿度

湿度控制稳定度： ±3%RH

使用压力： 1.2~2.89kg(含1atm)

压力波动均匀度： ±0.1Kg

时间范围： 0 Hr～999Hr

加压时间： 0.00 Kg～1.04 Kg/cm²  约 45 分

控制器： PLC可程式彩色触摸屏控制

内桶材质： SUS316#不锈钢板

外箱材质： SECC冷钢板高温烤漆处理

使用电源： 单相 220V  20A  50/60Hz

安全保护： 超压保护，超温保护，缺水保护等

水质要求： 纯水或蒸馏水（用户自备）

HAST加速老化试验箱在多层电路板测试中有以下好处：1. 高效加速老化：HAST试验箱可以模拟高温高湿环境，通过提高温度和湿度，加速电路板的老化过程。相比于自然老化，HAST试验可以在较短的时间内提供更快的老化速度，加快产品开发和测试周期。

2. 发现潜在问题：通过多层电路板测试，可以及早发现电路板中的潜在问题和缺陷。HAST试验可以暴露出电路板在高温高湿环境下可能出现的性能下降、功能失效、电气故障等问题，从而提前采取措施进行改进和优化。

3. 提高产品可靠性：通过经过HAST加速老化试验的多层电路板进行测试，可以评估电路板在长期使用中的可靠性和耐久性。这样可以确保产品在各种恶劣环境条件下仍然能够正常运行，提高产品的可靠性和稳定性。

4. 节省成本和时间：通过使用HAST试验箱进行多层电路板测试，可以在短时间内获得可靠的测试结果。这样可以减少产品开发和测试周期，提高生产效率，同时也能够减少因产品在实际使用中出现问题而导致的维修和返工成本。

总的来说，HAST加速老化试验箱在多层电路板测试中可以提供高效的加速老化测试，帮助发现潜在问题，提高产品可靠性，同时也能够节省成本和时间。